01077nam a2200205 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069052002900080245013600109300002100245545013800266545004300404653018100447700004100628700003600669773013300705900001600838900001700854KSI00063957920071004134136070809s2002    ulk           000   kor    a01100101a555.05b한613ㅈc19(3)00aAFM에서의 미세 힘 측정의 원리 및 응용=xMeasurement of weak forces in atomic force microscopy/d구자용,e김달현  ap. 13-18;c26 cm  a구자용, 한국표준과학연구원 과학기술부 창의적 연구진흥사업 이종성장제어연구단bkoojayon@kriss.re.kr  a김달현, 한국표준과학연구원  a원자간힘현미경a탐침a측정a탄소나노튜브a원자분해능a외팔보aAtomic force microscopeaTipaMeasurementaCarbon nanotubeaAtomic resolutionaCantilever1 a구자용,d1959-0KAC2017330974aut1 a김달현,d1964-0KAC2018466780 t한국정밀공학회지.d한국정밀공학회.g19卷 3號(2002년 3월), p. 13-18q19:3<13w(011001)KSE199508376,x1225-907110aKoo, Jayong10aKim, Dalhyun