01292nam a2200289 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052003300093245018400126300002500310545004000335545007500375545007200450545007200522653011300594700001900707700001400726700001400740700003600754773014300790900001600933900002000949900001700969900001600986KSI00040036720050603144931050530s2000    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a028.605b한613ㅈㅂc7(10)00a경로 지연 고장 테스팅을 위한 부분 확장 주사 방법=x(A)partial enhanced scan method for path delay fault testing/d김원기,e김명균,e강성호,e한건희  ap. 3226-3235;c26 cm  a김원기, 정회원 : 삼성전기  a김명균, 준회원 : 연세대학교 대학원 전기전자공학과  a강성호, 정회원 : 연세대학교 전기전자공학과 교수  a한건희, 정회원 : 연세대학교 전기전자공학과 교수  a경로 지연 고장 테스팅a확장 주사 방법aPartial enhanced scan methodaPath delay fault testing1 a김원기4aut1 a김명균1 a강성호1 a한건희,d1965-0KAC2015075160 t정보처리논문지.d한국정보처리학회.g제7권 10호(2000년 10월), p. 3226-3235q7:10<3226w(011001)KSE199509081,x1226-919010aKim, Won-Gi10aKim, Myung-Gyun10aKang, Sungho10aHan, Gunhee