01170nam a2200229 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052003100093245019800124300002300322545009000345545009000435653014000525700005300665700001400718773014500732856002000877900002900897900001400926KSI00023771020040713103446040622s1997    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a530.7505b한519ㅂc17(2)00a고주파수 초음파 검출장에서 SiC 세라믹 내부의 미세결함 검출=xDetection of small flaws in SiC structural ceramic in high frequency detection field/d김병극,e이승석  ap. 100-107;c26 cm  a김병극, 한국표준과학연구원 방재기술연구센터 비파괴평가그룹  a이승석, 한국표준과학연구원 방재기술연구센터 비파괴평가그룹  a고주파수 초음파 검출장aSiC 세라믹a미세결함aDetectionaSmall flawsaStructuralaCeramicaHighaFrequencyaFieldaSiC1 a김병극,g金炳克,d1960-0KAC2018452224aut1 a이승석0 t비파괴검사학회지.d韓國非破壞檢査學會.g제17권 2호(1997년 5월), p. 100-107q17:2<100w(011001)KSE199508510,x1225-784240u1989759aKd00210aKim, Byoung-Geuk,d1960-10aLee, S.S.